主營產品:X射線熒光光譜儀
日立多功能臺式分析測量儀測厚儀CMI760接受多種探針類型,可滿足幾乎任何PCB應用,包括表面銅和孔銅應用。
我們的CMI760標配SRP-4探頭,并采用先進的統計軟件顯示測試數據。該儀器具備高度可擴展性,能夠實施微電阻和渦電流測試,以準確地高精度測量銅厚。我們提供選購的附件來測量孔銅厚度。
日立多功能臺式分析測量儀測厚儀CMI760包括帶系繩和用戶可更換SRP-4探針,帶來額外的便利性且更具成本效益。此探針包含4個牢固封入的插腳,這一設計不僅實現了耐用性,還可抗破裂和磨損。其透明外殼便于在小型軌跡上放置探針。系繩電纜適合于現場應用,并且其占用很小的面積,從而帶來便利性和用戶友好性。
借助我們的ETP探頭,CMI760可通過渦電流進行操作。無論板材具有多少層,此探針均可產生準確的讀數,并且在如下情況中均有相同的良好測量表現:雙面或多層板材、蝕刻前后的板材,以及采用錫和錫/鉛電鍍的板材。該儀表也提供溫度補償功能,可即時測量從電鍍槽中提起的板材。

我們提供多種用于PCB行業的PCB儀表,根據您的應用需求,為您帶來較高成本效益的最佳解決方案。
