日立臺式XRF鍍層測厚儀FT110A-測量極小目標

日立臺式XRF鍍層測厚儀FT110A幫助諸多的行業確保符合電鍍規范，以避免出現性能低下的風險以及與廢料或返工相關的成本。此外，該儀器可減少一系列測量所需的時間，從而幫助提高生產力。

        在任何質量保證或質量控制系統中，準確性和可靠性均至關重要，擁有改良的X射線熒光技術的FT110A將使您的產品滿足最高標準的行業規范要求。

        借助更新的成像系統、全新的自動測量定位功能和大型樣品臺，確保這臺鍍層分析儀易于使用并提高分析效率。

         基于 Windows 系統的X-ray Station軟件提供直觀的用戶界面，用戶可對該儀器進行全面控制。

        通過將數據直接整合到MicrosoftTM Word和Excel中來簡化您的質量保證/質量控制流程。

為何如此多的實驗室改為使用FT110A?

1.快速分析

         高靈敏度分析組件可以在數秒內測量鍍層厚度和成分。

2.無損

         X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕跡。即使是對敏感性材料，其測量也是安全的;同時無需丟棄被測量過的樣品。

3.提高生產力

        FT110A的自動化功能意味著您可以更快地準備和測量樣品，從而提高您的分析量。

4.多功能性

         FT110A可以分析多達四層鍍層和基材?？梢允褂没緟?FP)或經驗校準來測量鍍層和材料成分(如金屬合金或電鍍液)。

5.易于使用

        培訓可輕松完成，因此任何人都可以操作FT110A。只需在工作臺上設置樣品，借助友好的界面指定測量區域，然后開始記錄讀數。用戶界面可配置為僅顯示日常操作所需的功能。

6.兼容性

        測量方法符合標準ISO3497、日立高新技術ASTMB568和DIN50987。

精確性和靈活性

FT110A擁有一系列標準功能，能夠以快速性和簡便性測量鍍層厚度，其配置滿足高要求的應用。

特點

多準直器組件-0.1和0.2毫米雙準直器是標準配置，可靈活處理不同尺寸的零件。

廣泛的分析范圍-可確定從鈦(22)到鈾(92)等元素的鍍層厚度。

校準和FP方法-使用經驗和基本參數方法來確定薄膜厚度和成分。

大型測量室尺寸-FT110A可容納尺寸高達500x400x150毫米且重量達到10kg的樣品。

一鍵式測量-使用中心搜索功能進行簡化的自動測量意味著幾乎任何人都可以測試樣品。

可選件

四準直器組件-通過加入0.05毫米和0.025x0.4毫米準直器，FT110A的多功能性得以顯著提升。

廣視角相機-獲取樣品的鳥瞰圖，然后快速放大您選擇的測試區域。

自動對焦功能-無論樣品厚薄或大小如何，FT110A都可在幾秒鐘內自動對樣品進行對焦。可從遠至80毫米3.1英寸)的距離測量樣品，非常適合測量具有凹陷區域的零件，或者適用于測量不同高度的多個樣品。

圖像處理軟件-使用圖案識別軟件快速的對復雜樣品進行分析。操作員只需將測量區域放入視域，軟件就會自動進行位置微調。