質量控制與生產同步
XRF分析的速度向來很快。但是,經常在生產環境中進行XRF測量的用戶都知道,使用XRF設備的大部分時間都消耗在條件準備和儀器設置上,而不是在樣品實際分析中。隨著測試樣品的尺寸越來越小而復雜性增大,以及對規格要求越來越嚴格,且需要進行100%全檢測,此時每一秒時間的節省都很重要。
日立臺式XRF鍍層測厚儀FT230直指此問題的核心。FT230的每個設計元素均旨在減少完成XRF測量所需的時間,有助于更快地根據測試結果采取行動,減少浪費并提高工作效率。從根本上說,我們讓操作人員與儀器的交互變得越來越簡單。
只需加載零部件并運行Find My PartTM(查找我的樣品)程序,FT230即可找到需要測量的零部件和測試點,選擇正確的分析程序并將測試結果發送至所需之處。操作人員很少需要介入,因此可以將更多的時間用于執行其他任務。
XRF測厚環節不應成為生產過程的瓶頸。從微小的電子元件到大型鍍件,FT230均可幫助您在更短的時間內完成更多工作,更方便的實現100%全檢驗。
使用日立臺式XRF鍍層測厚儀FT230實現無間斷生產
1.快速分析
自動聚焦加快樣品裝載速度,即使在不同形狀和尺寸的組件之間切換時依然如此。
2.快速設置
智能識別功能 Find My PartTM(查找我的樣品)會自動選擇正確的分析程序,并找到正確的分析點。
3.出色的可視性
儀器可選配廣角相機,在更大面積上顯示樣品視圖。這一功能加上可調節的發光二極管照明裝置,使得精確定位目標區域變得容易。
4.最大正常運行時間
自檢診斷可確認儀器的穩定性和健康狀況。并可將數據共享至安全的日立ExTOPE Connect云數據服務,以便后臺儀器支持專家給予技術支持。5.無縫集成
與其他軟件系統(如QMS、SCADA、MES和ERP)無縫集成,為內部用戶和外部客戶提供簡單、可定制的數據導出和報告創建途徑。
6.易于使用
新型用戶界面專為非XRF專家用戶設計。直觀而整潔,只需點擊鼠標即可進行正確的分析。
7.功能先進且用途廣泛
FT230簡化了測試程序,能分析基材上多達四層鍍層,也可分析金屬合金和鍍液成分。
智能識別
FT230配置新開發的智能零部件識別系統,可實現快速、簡單的分析設置。這個功能將分析設置中最困難且容易出錯的部分予以自動化--自動為每個分析位置選擇正確的分析程序。
Find My PartTM(查找我的樣品)為測量零部件選擇正確的分析程序。讓XRF自動選擇測量位置和方法,并將結果和報告發送至所需之處。這比手動過程更快,能減少用戶出錯的幾率,并使操作人員有時間執行其他任務。
當你需要測量新的零部件時,可以很容易的將它們添加至儀器識別庫中。
自動聚焦
為了最大限度地提高XRF分析的準確度和精確度,必須在X射線管、被測零部件和檢測器之間保持固定的距離。焦距的微小變化也會對結果的可靠性產生影響,X射線管距離樣品太近或是太遠會使得樣品測量的厚度結果過大或過小。
我們已整備儀器配置,為用戶提供兩種自動聚焦選項:自動接近和自動對焦。
當固定工作距離時,使用自動接近功能。只需輕輕一點,儀器便會自動將分析頭移動至準確距離。自動對焦,有時稱為“自由距離測量",選擇這種對焦方式后,即使測量距離發生變化,儀器也能獲得準確的結果。
這一功能可以在一天的分析過程中節省大量時間,尤其是在測量具有復雜幾何形狀的組件或高度不同的多個樣品時更能節省時間。

智能簡短的界面
FT230是第一款運行日立新FT Connect軟件的產品,基于40多年的經驗和用戶對SmartLink和X-ray Station在內的成熟軟件的反饋。
FTConnect能助力用戶更快獲得測試結果。顯著的區別是界面。FT Connect屏幕并不充滿用戶操作所需的控件和選項,而是優先顯示樣品視圖和清晰顯示分析結果,由此能使用戶更容易正確定位零部件和根據結果迅速采取行動。
常規測量屏幕--用戶最常使用的界面--僅顯示設置和開始測量以及評估結果所需的控件。用戶只需點擊幾下鼠標,即可輕松創建校準、設置報告模板和數據處理規則,以及使用引導式選擇工具開發更復雜的分析程序、模式和零部件。FTConnect不僅使運行常規分析和快速解讀結果變得簡單,同時還結合先進的分析選項,可進行更高級的分析(包括根本原因分析)。
廣域視圖
設置樣品進行分析最困難的一個方面是在印刷電路板或金屬部件上找到正確的測量點。除了智能識別功能,FT230還提供業內最大的樣品視圖軟件。屏幕的大部分區域用來顯示零部件,操作人員可以更容易地查看零部件表面上的特征,幫助他們找到正確的區域進行分析,并更容易在零部件表面查找。
此外,FT230還選配另一臺廣角相機,可以更容易、更快速找到大型電路板或金屬鍍件上的測量位置。當兩臺相機一并使用時,用戶可以在單個樣品的不同測量位置之間或樣品室內多個零部件之間快速切換,而不會“迷失"在眼花繚亂中。

